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山内 俊彦; 星野 克道; 川島 寿人; 小川 俊英; 河上 知秀; 椎名 富雄; 石毛 洋一*
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1, 37(10), p.5735 - 5741, 1998/10
被引用回数:3 パーセンタイル:18.89(Physics, Applied)JFT-2Mトカマクにおける電子サイクロトロン共鳴加熱プラズマで、電子密度分布がホロー化していることを初めて、TVトムソン散乱装置によって測定することができた。この時の電子サイクロトロン共鳴加熱パワー250KWで電子密度は1.210cmであった。電子温度は逆に中心が加熱され、2.7keVで飽和していた。この原因として、スーパーサーマル電子によるもの、負磁気シェアによるもの、及び電子のドリフトによるもの等考えられた。ここでは、スーパーサーマル電子による電界で中心の電子密度がポンプアウトされるとして評価すると、密度の減少分は実験値を説明できた。
永島 圭介; 星野 克道; 小川 宏明; 濱松 清隆
Nuclear Fusion, 35(8), p.994 - 999, 1995/00
被引用回数:6 パーセンタイル:42.11(Physics, Fluids & Plasmas)JFT-2Mトカマク装置において、電子サイクロトロン共鳴加熱時の密度変動について詳細な実験解析を行った。電子サイクロトロン加熱時には、プラズマ密度が大きく減少する現象が観測されている。これは、密度クランプ現象と呼ばれ、未だ解明されていないプラズマ中での粒子輸送過程を反映するものと考えられる。さらに、この密度クランプは、核融合炉においては密度制御上の重大な問題となることが予測される。従って、電子サイクロトロン加熱時の密度変動を解明することは極めて重要な課題となっている。本論文では、パルス状入射及び変調入射という2つの異なる加熱時において、密度変動を詳細に解析することにより、電子サイクロトロン共鳴加熱時には局所的な外向きの粒子フラックスが誘起されていることを実験的に明らかにした。